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渦流法電阻率測試儀在新材料的研發(fā)過程中的應(yīng)用
2026-01-30
2026-01-27
2025-08-28
PN型測試儀的設(shè)計(jì)特點(diǎn)及使用注意事項(xiàng)
2025-07-17
2025-06-26
產(chǎn)品中心/ products
紅外激光少子壽命 指半導(dǎo)體中非平衡少數(shù)載流子在紅外激光激發(fā)下從產(chǎn)生到復(fù)合的平均存活時(shí)間。 ?測試方法紅外脈沖激光 激發(fā)半導(dǎo)體材料，通過 微波光電導(dǎo)衰減法 （ μ-PCD ）檢測電導(dǎo)率變化，從而推算少子...
導(dǎo)電膜，即具有導(dǎo)電性能的薄膜材料，是一種重要的功能性材料，廣泛應(yīng)用于觸摸屏、太陽能電池、柔性電路等領(lǐng)域。方阻和電阻率，是衡量導(dǎo)電膜導(dǎo)電性能的重要指標(biāo)。方阻，全稱方塊電阻(Sheet Resistanc...
金屬膜電阻器是膜式電阻器(Film Resistors)中的一種。它是采用高溫真空鍍膜技術(shù)將鎳鉻或類似的合金緊密附在瓷棒表面形成皮膜，經(jīng)過切割調(diào)試阻值，以達(dá)到最終要求的精密阻值，然后加適當(dāng)接頭切割，并...
半導(dǎo)體材料根據(jù)時(shí)間先后可以分為三代。第一代為鍺、硅等普通單質(zhì)材料，其特點(diǎn)為開關(guān)便捷，一般多用于集成電路。第二代為砷化鎵、磷化銦等化合物半導(dǎo)體，主要用于發(fā)光及通訊材料。第三代半導(dǎo)體主要包括碳化硅、氮化鎵...
碳化硅的厚度范圍?可以從幾微米到幾毫米不等，具體取決于其應(yīng)用場景和制造工藝。例如，碳化硅晶圓片的厚度可以達(dá)到130微米（um），而碳化硅顆粒的尺寸則有1-3mm、3-5mm等多種規(guī)格?12。碳化硅在不...
非接觸式無損測厚儀采用的工作原理是光熱紅外法。利用光源照射物體表面,通過對(duì)激勵(lì)光源進(jìn)行強(qiáng)度調(diào)制，在材料中產(chǎn)生熱波，光源激發(fā)的熱量通過熱波在涂層中向深處傳播，這一熱波在涂層與基材的邊界處反射并最終傳播出...
非接觸式無損測厚儀采用的工作原理是光熱紅外法。利用光源照射物體表面,通過對(duì)激勵(lì)光源進(jìn)行強(qiáng)度調(diào)制，在材料中產(chǎn)生熱波，光源激發(fā)的熱量通過熱波在涂層中向深處傳播，這一熱波在涂層與基材的邊界處反射并最終傳播出...
非接觸式無損測厚儀采用的工作原理是光熱紅外法。利用光源照射物體表面,通過對(duì)激勵(lì)光源進(jìn)行強(qiáng)度調(diào)制，在材料中產(chǎn)生熱波，光源激發(fā)的熱量通過熱波在涂層中向深處傳播，這一熱波在涂層與基材的邊界處反射并最終傳播出...
在半導(dǎo)體制造領(lǐng)域，晶圓的厚度測量是至關(guān)重要的一環(huán)，它直接關(guān)系到產(chǎn)品的質(zhì)量和性能。為了滿足高精度測量的需求，我們研發(fā)了一款對(duì)射非接觸式光譜共焦位移傳感器厚度測量設(shè)備，專門用于晶圓厚度的精確測量
金剛石膜檢測與測試報(bào)告 檢測項(xiàng)目 金剛石膜的檢測項(xiàng)目主要包括以下幾個(gè)方面：膜厚度、晶體結(jié)構(gòu)、表面粗糙度、附著力、熱穩(wěn)定性及耐磨性等。
硅片厚度測試的方法主要包括非接觸式光學(xué)測量技術(shù)，如反射率法、干涉法和激光掃描共聚焦顯微鏡等??1。其中，反射率法是通過測量不同角度下光線的反射率變化來計(jì)算硅片厚度，而干涉法則是利用光的干涉現(xiàn)象來測量厚...
非接觸式半絕緣方阻測量技術(shù)可以廣泛應(yīng)用于各種領(lǐng)域,比如材料表面導(dǎo)電性測試、薄膜導(dǎo)電性測量、電路板測試等。它具有測量快速、精度高、不損傷被測物體等優(yōu)點(diǎn)。
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